【津高本院】不妊治療のページです
精子が少ないと言われたら…～停留精巣の既往がある男性に知ってほしい治療戦略～
精子が少ないと言われたら…
～停留精巣の既往がある男性に知ってほしい最新治療戦略～
「精子の数が少ないですね」不妊治療中にそう言われ、不安になったことはありませんか？特に、子どもの頃に「停留精巣（精巣が陰嚢に降りてこない状態）」の手術を受けたことがある男性では、大人になってから精子を作る力（造精機能）が低下していることがあります。
今回は、2026年に発表された専門家レビューをもとに、「重度乏精子症（精子数が著しく少ない状態）」「体外受精がうまくいかなかった場合」に知っておきたい最新の考え方をご紹介します。
実際の症例はこんなケース
今回紹介されたのは下記のような方でした
🔹 33歳男性
🔹2歳で停留精巣の手術を受けた
🔹精子濃度：200万/mL
🔹運動率低下
🔹正常形態率：1％
🔹顕微授精（ICSI）を2回実施
🔹毎回十分な採卵数があったにもかかわらず、良好胚はわずか1個
停留精巣だと将来不妊になるの？
停留精巣は出生時に精巣が陰嚢へ下降していない状態です。このような方では手術を早期に受けても、下記のリスクが一般男性より高いことが知られています。
⚠️ 将来の不妊リスク
⚠️ 男性ホルモン低下
⚠️ 精巣がんリスク上昇
そのため、生殖医療専門の泌尿器科医による評価が非常に重要になります。
精子が少ない場合に行うべき検査
専門家が推奨している検査は次の通りです。
- ホルモン検査（精巣が十分に働いているかを確認します）
- 遺伝子検査（重度乏精子症では、染色体検査やY染色体微小欠失検査が推奨されています）
- 陰嚢超音波検査（精巣の状態や腫瘍の有無を確認します）
精子は将来さらに減る可能性がある
実は重度乏精子症の方では、時間とともに精子が完全になくなってしま「無精子症」
へ進行することがあります。研究では、
- 精子濃度100万/mL未満の男性の21.1％が3～5年以内に無精子症へ進行
- さらに5年後には32％に達していました。
だから精子凍結が大切
専門家は、重度乏精子症では早めの精子凍結保存を推奨しています。
理由は下記です。
✅ 将来の無精子症に備えられる
✅ IVF時のバックアップになる
✅ 将来の妊娠希望にも備えられる
注目される「DNA断片化検査」
最近注目されているのが 精子DNA断片化検査です。これは、精子の遺伝子がどれだけ傷ついているかを調べる検査です。
DNA損傷が多いと、
⚠️ 受精率低下
⚠️ 胚発育不良
⚠️ 流産率上昇
⚠️ IVF成績低下
につながることが知られています。
停留精巣ではDNA損傷も多い
研究によると、停留精巣手術歴のある男性ではDNA断片化高値がみられる割合が
18％、両側停留精巣では43％に上昇しました。
精巣から直接採取した精子の方が良い？
ここが今回の論文の重要ポイントです。精液中の精子より、精巣から直接採取した精子（TESE精子）の方がDNA損傷が少ないことが知られています。
そのため過去に
❌ IVFで受精しない
❌ 胚盤胞になりにくい
❌ 良好胚ができない
こいった経験がある場合、TESE精子を使うことで成績改善が期待できる可能性があります。
万一、無精子症になった場合は？
もし将来的に無精子症へ進行しても、 micro-TESE（顕微鏡下精巣内精子採取術）
によって精子が見つかる可能性があります。停留精巣既往のある無精子症患者では、
46％で精子回収に成功したと報告されています。
患者さんへのメッセージ
体外受精では、卵子や胚ばかりに目が向きがちです。
しかし、
- 精子の質
- DNAの状態
- 将来の精巣機能
も同じくらい重要です。特に、
✔️ 停留精巣の既往がある
✔️ 精子数が少ない
✔️ IVFがうまくいかない
こういった場合は、生殖泌尿器科医への相談が妊娠への近道になるかもしれません。
まとめ
✅ 停留精巣既往は将来の男性不妊リスクになる
✅ 症例では精子濃度200万/mL・正常形態率1％
✅ 精子濃度100万/mL未満では5年以内に32％が無精子症へ進行
✅ DNA断片化高値は停留精巣既往男性の18％、両側では43％
✅ 無精子症になってもmicro-TESEで46％に精子回収成功
✅ IVF不成功例ではTESE精子の利用が有力な選択肢
妊娠への道はひとつではありません。男性側の評価と治療を見直すことで、新たな可能性が見えてくることがあります🌱
≪出典≫
Brems, Jacob A., and Robert M. Coward. “Expert Approach to Severe Oligospermia in a Patient with Prior Cryptorchidism and In Vitro Fertilization Failure.” F&S Reports, vol. 7, no. 3, 2026, pp. 177–179.